方阻測(cè)試新產(chǎn)品為薄膜測(cè)試提供機(jī)械、電氣兩方面的保護(hù)，在寬廣的量程范圍內(nèi)，使各種電子薄膜能得到準(zhǔn)確、無(wú)損的方塊電阻測(cè)量結(jié)果。

由于新型薄膜材料種類(lèi)繁多，研制過(guò)程中樣品性能變化較大，而且各種薄膜的機(jī)械強(qiáng)度，允許承受的電壓、電均不相同，因此測(cè)試儀可為用戶量身定制各種定探針壓力及曲率半徑的探針頭，儀器的測(cè)試電分7檔，可由0.4μA增加到為1000mA，測(cè)試電壓可由8V增加到80V，測(cè)試電壓和測(cè)試電均可連續(xù)調(diào)節(jié)，給薄膜、涂層的研制者提供了個(gè)摸索測(cè)試條件的寬闊空間。

由于儀器設(shè)有恒源開(kāi)關(guān)，并且所有電檔在探針與樣品接觸后均有電延時(shí)接通的能，充分保護(hù)了樣品表面不會(huì)因?yàn)樘结樈佑|時(shí)產(chǎn)生的電火花而受到損壞。